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高阻测定仪电路板PCB抄板及二次开发案例解析

[日期:2009-12-29] [来源:http://www.sbing.net/] [作者admin] [点击:]

高阻测定仪是用计算机控制PTC材料R-T曲线性能的仪器。华创已经成功掌握了该套设备的抄板克隆技术,现将其主要技术参数介绍如下:
  1. 可对Ф40mm以下或10×10×10mm3PTC样品进行R-T特性试验仪器电阻测量范围:0.01Ω-1015Ω±3%
  2. 温度控制范围:室温-300℃
  3. 分辨率:0.1℃


  4. 控温方式:恒温±0.5℃
  5. 匀速升温速率:0.5-5℃/分
  6. 匀速升温精度:±1℃
  7. 计算机自动PTD调节,曲线CRT显示,数据存储、打印。
  华创长期承接各类设备电路板抄板、板上IC芯片解密、PCB原理图反推、物料清单BOM制作、电路板克隆、电路板打样、电路板焊接、样机全套克隆、样机制作与调试、产品全套技术资料提取等技术服务,有意寻求项目合作者请致电

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